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하이브리드 차세대 반도체 할로겐 페로브스카이트 소재의 나노구조 분석

하이브리드 유무기 반도체 물질인 할로겐 페로브스카이트는 최근 각광받는 차세대 반도체 물질 중 하나로서 현재 과학계에서 상당한 관심을 불러일으키고 있다. 이 보고서에는 할로겐 페로브스카이트 물질의 구조적 및 형태학적 특성을 전기적 특성과 결합하는 분석 방법에 대하여 기술할 것이다. 수나노 단위로 다양한 전기적 특성을 동시에 이미징할 수 있는 Kelvin probe force micro-scopy(KPFM)와 conductive atomic force microscopy(c-AFM) 분석 방법으로 다결정 반도체 박막인 유-무기 하이브리드 할로겐 페로브스카이트 반도체에 존재하는 대표적인 결함인 2D grain boundary (GB)의 전기적 특성을 분석해보고 빛, 전압, 수분이 가해졌을 때의 특성을 살펴보았다. 우리는 GB가 전자와 전공의 분리, 이온의 움직임, 수분의 침투에 큰 영향을 미친다는 것을 관찰하였다.