동향

ORDELA사 2660N 2차원 위치 민감형 중성자 검출기의 중성자 빔 특성시험 및 SANS 장치 이용기술 습득

분야

물리학

발행기관

성백석(null / null)

발행일

1999-01-05~1999-01-16


첨부파일


1.ORDELA사 2660N 2차원 위치민감형 중성자 검출기의 전자적 및 중성자 특성평가를 수행하였다. 즉, Am-Be 중성자 표준선원을 이용하여 검출기의 최적의 discriminator level,High Voltage 및 Amplifier gain 조정 실험을 수행
2.또한 NG-O에 설치된 8m SANS 장치를 이용하여 중성자 빔을 이용한 검출기의 dead time, spacial resoluiton 및 detector effeciency를 측정
3.2차원 검출기의 ghost peaks측정
4.중성자 단색화 빔을 얻기 위한 중성자 속도선별기의 calibration을 위한 중성자 chopper제작 기술 습득
5.SANS 장치 개발 및 이용기술습득
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