동향

Automated visual inspection in the semiconductor industry: A survey

분야

반도체장비

발행기관

Szu-Hao Huang, Ying-Cheng Pan

발행일

01, 2015

URL


반도체 검사 자동화에 대하여 다양한 방법을 조사한 조사 논문으로 반도체 검사 장비 자동화에 대하여 연구하는 연구자 들 뿐 만아니라 다른 검사 과정의 자동화에 대하여 연구하는 연구자들에게도 유용한 조사 논문이 될 것 이라 사료된다.
리포트 평점  
해당 콘텐츠에 대한 회원님의 소중한 평가를 부탁드립니다.
0.0 (0개의 평가)
평가하기
등록된 댓글이 없습니다.