하이브리드 차세대 반도체 할로겐 페로브스카이트 소재의 나노구조 분석
2023-08-11
org.kosen.entty.User@6c054206
윤재성(unsw20)
▼ 하이브리드 차세대 반도체 할로겐 페로브스카이트 소재의 나노구조 분석
Nanoscale Functional Imaging of Next-Generation Hybrid Perovskite Semiconductor
▼ 발표내용
소재의 전기적 특성은 반도체 연구 분야에서 중요한 역할을 하며, 소자의 성능을 결정하는데 있어 중요한 역할을 한다. 따라서 소재의 특성과 소자의 성능 사이의 명확한 연결을 이해하는 것이 중요하다. 이를 위해 비 파괴 분석 기법을 사용 하여 소재의 구조적 특성에 따라 달라지는 전하의 이동을 이미징 하는 다양한 연구가 진행 되고 있다. 스캐닝 프로브 현미경 (Scanning probe microscopy) 기법은 나노스케일은 미세한 팁을 사용하여 반도체 표면과 매우 가까이 접근하는 방식으로 샘플 표면의 다양한 특성을 관찰 할 수 있다. 이 분석 방식은 0.1nm (Scanning tunneling microscopy)부터 수 나노미터 (Kelvin probe force microscopy 또는 conductive AFM)까지 아주 정밀한 해상도로 전하의 거동 관측이 가능하다. 특히 샘플 표면의 다양한 기능적 특성, 예를 들어 piezoresponse, thermal properties, magnetic properties, mechanical properties 등을 관찰할 수 있다. 이 강연에서는 이 분석 방법을 활용하여 차세대 할라이드 페로브스카이트 반도체의 나노스케일 이미징 결과들을 소개하고, 다양한 나노스케일 특성에 대해 논의할 예정이다.
Nanoscale Functional Imaging of Next-Generation Hybrid Perovskite Semiconductor
▼ 발표내용
소재의 전기적 특성은 반도체 연구 분야에서 중요한 역할을 하며, 소자의 성능을 결정하는데 있어 중요한 역할을 한다. 따라서 소재의 특성과 소자의 성능 사이의 명확한 연결을 이해하는 것이 중요하다. 이를 위해 비 파괴 분석 기법을 사용 하여 소재의 구조적 특성에 따라 달라지는 전하의 이동을 이미징 하는 다양한 연구가 진행 되고 있다. 스캐닝 프로브 현미경 (Scanning probe microscopy) 기법은 나노스케일은 미세한 팁을 사용하여 반도체 표면과 매우 가까이 접근하는 방식으로 샘플 표면의 다양한 특성을 관찰 할 수 있다. 이 분석 방식은 0.1nm (Scanning tunneling microscopy)부터 수 나노미터 (Kelvin probe force microscopy 또는 conductive AFM)까지 아주 정밀한 해상도로 전하의 거동 관측이 가능하다. 특히 샘플 표면의 다양한 기능적 특성, 예를 들어 piezoresponse, thermal properties, magnetic properties, mechanical properties 등을 관찰할 수 있다. 이 강연에서는 이 분석 방법을 활용하여 차세대 할라이드 페로브스카이트 반도체의 나노스케일 이미징 결과들을 소개하고, 다양한 나노스케일 특성에 대해 논의할 예정이다.
