지식나눔

순철의 B-H curve를 구합니다.

순철 및 일반재료에서 B-H curve를 구하는 방법을 알고싶습니다.
  • B-H curve
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답변 3
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    고상운님의 답변

    >순철 및 일반재료에서 B-H curve를 구하는 방법을 알고싶습니다. 순철 뿐만아니라 강자성체의 BH CURVE는 일정한 형태의 시료를 구비한후 BH TRACER라는 측정기에 올려 놓고 자장을 +방향으로 걸고, -방향으로 서서히 자장을 걸면서 강자성체에 남는 잔류자기를 측정하여 그 CURVE 를 얻습니다. 이를 자화 히스테리시스 곡선이라고도 합니다.
    >순철 및 일반재료에서 B-H curve를 구하는 방법을 알고싶습니다. 순철 뿐만아니라 강자성체의 BH CURVE는 일정한 형태의 시료를 구비한후 BH TRACER라는 측정기에 올려 놓고 자장을 +방향으로 걸고, -방향으로 서서히 자장을 걸면서 강자성체에 남는 잔류자기를 측정하여 그 CURVE 를 얻습니다. 이를 자화 히스테리시스 곡선이라고도 합니다.
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    이훈희님의 답변

    http://spintronics.korea.ac.kr
    http://spintronics.korea.ac.kr
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    오훈상님의 답변

    >순철 및 일반재료에서 B-H curve를 구하는 방법을 알고싶습니다. 이미 다른 분께서 간략히 설명을 해주셨읍니다만 한두가지 첨언을 하고자 합니다. 보통 자기이력곡선 (magnetic hysteresis curve) 을 측정하는 방법으로는 제목에 적은 바와 같이 B-H 곡선을 측정하는 방법과 M-H 곡선을 측정하는 2가지 방법이 있습니다. 두가지 모두 외부에서 자기장을 인가하고 그 세기와 방향을 변화시켜가면서 자성체의 유도자화 값을 monitoring 한다는 점에서 유사하긴 하지만 B-H 곡선의 경우 외부에서 가해준 자기장 값과 외부 자기장에 의해 유도된 자성체 자체의 자화량이 합해진 B 값을 측정하는 것이고 M-H 곡선의 경우 외부 자기장에 의해 유도된 자성체 자체의 자화량 값인 M 값만을 측정한다는 점이 다릅니다. 일반적으로 B-H 곡선은 B-H tracer 라는 기기로 측정을 하게되는데 측정하고자 하는 물질을 toroid (도우넛 형태의 모양) 형태로 가공을 해야 측정이 가능하다는 단점을 가지고 있는 반면에 M-H 곡선의 경우 VSM (Vibrating Sample Magnetometer) 또는 AGFM (Alternating Gradient Force Magnetomter) 와 같은 장비로 측정을 하게 되는데 비교적 sample 의 형태에 큰 제약이 없다는 것이 큰 장점입니다. 측정감도 (sensitivity) 측면에 있어서는 VSM 보다 AGFM 이라는 장비가 약 10~100 배 정도 좋은 것으로 알려져 있고 측정속도도 훨씬 빠르지만 sample 을 매우 작게 준비해야하는 단점(?)도 있습니다. 현재 M-H 곡선 측정에 가장 널리 사용되고 있는 장비는 VSM 으로써 최근 판매되고 있는 모델의 경우 resolution은 약 10~100 micro emu 정도입니다. 상기의 장비들은 자성을 연구하는 대학교 및 연구소에서 쉽게 찾아볼 수 있으며 서울대, 고려대, 충남대, KAIST 의 재료공학과 및 KIST 에서도 보유하고 있습니다. 참고가 되셨는지 모르겠네요.
    >순철 및 일반재료에서 B-H curve를 구하는 방법을 알고싶습니다. 이미 다른 분께서 간략히 설명을 해주셨읍니다만 한두가지 첨언을 하고자 합니다. 보통 자기이력곡선 (magnetic hysteresis curve) 을 측정하는 방법으로는 제목에 적은 바와 같이 B-H 곡선을 측정하는 방법과 M-H 곡선을 측정하는 2가지 방법이 있습니다. 두가지 모두 외부에서 자기장을 인가하고 그 세기와 방향을 변화시켜가면서 자성체의 유도자화 값을 monitoring 한다는 점에서 유사하긴 하지만 B-H 곡선의 경우 외부에서 가해준 자기장 값과 외부 자기장에 의해 유도된 자성체 자체의 자화량이 합해진 B 값을 측정하는 것이고 M-H 곡선의 경우 외부 자기장에 의해 유도된 자성체 자체의 자화량 값인 M 값만을 측정한다는 점이 다릅니다. 일반적으로 B-H 곡선은 B-H tracer 라는 기기로 측정을 하게되는데 측정하고자 하는 물질을 toroid (도우넛 형태의 모양) 형태로 가공을 해야 측정이 가능하다는 단점을 가지고 있는 반면에 M-H 곡선의 경우 VSM (Vibrating Sample Magnetometer) 또는 AGFM (Alternating Gradient Force Magnetomter) 와 같은 장비로 측정을 하게 되는데 비교적 sample 의 형태에 큰 제약이 없다는 것이 큰 장점입니다. 측정감도 (sensitivity) 측면에 있어서는 VSM 보다 AGFM 이라는 장비가 약 10~100 배 정도 좋은 것으로 알려져 있고 측정속도도 훨씬 빠르지만 sample 을 매우 작게 준비해야하는 단점(?)도 있습니다. 현재 M-H 곡선 측정에 가장 널리 사용되고 있는 장비는 VSM 으로써 최근 판매되고 있는 모델의 경우 resolution은 약 10~100 micro emu 정도입니다. 상기의 장비들은 자성을 연구하는 대학교 및 연구소에서 쉽게 찾아볼 수 있으며 서울대, 고려대, 충남대, KAIST 의 재료공학과 및 KIST 에서도 보유하고 있습니다. 참고가 되셨는지 모르겠네요.
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