2005-08-12
org.kosen.entty.User@3ca64e4
오동현(dream91)
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유리판위에 polymer film(10nm)으로 코팅을 했습니다. 이 polymer film위에 몇가지 다른 종류의 solvent(4-60 micrometer)를 덮어버리고, polymer film과 liquid layer의 계면을 들여다 보고 싶습니다.
표면의 x, y축 방향에 따른 roughness를 상온에서 관찰후, 열을 가하면서 계면이 변화가 생기는지 여부를 보고자 합니다.
roughness 등의 morphology, wetting성 등의 가능한 다양한 정보를 얻고 싶습니다.
적합한 분석 tool이 있는지 궁금합니다.
일깨워주시면 대단히 감사하겠습니다.
- polymer film
- interface
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각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
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답변 2
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답변
서영수님의 답변
2005-08-16- 0
우선 두가지 방법을 생각해 볼 수 있읍니다. 첫째로, solvent의 boiling point나 측정온도등의 조건이 맞으면, Liquid cell을 사용하여 AFM (Atomic Force Microscope) 측정을 할 수 있읍니다. 둘째로, Reflectivity를 사용하는 방법인데, x-ray reflectivity는 액체막을 투과하지 못하므로 neutron reflectivity를 사용해야합니다. 이경우 thick quartz wafer위에 polymer를 코팅하고 solvent로 특수하게 고안된 Liquid cell의 내부를 채운 후, circulater를 사용하여 온도 조절을 하며 측정하면, 계면의 현상을 추적할 수 있읍니다. Neutron reflectivity 장치 (reflectometer)는 현재 원자력연구소의 하나로에서 가동중이므로 실험의 가능성을 타진할 수 있을 것으로 생각됩니다. 자세한 방법을 원하시면, 자료를 추천해 드리겠읍니다. >유리판위에 polymer film(10nm)으로 코팅을 했습니다. 이 polymer film위에 몇가지 다른 종류의 solvent(4-60 micrometer)를 덮어버리고, polymer film과 liquid layer의 계면을 들여다 보고 싶습니다. >표면의 x, y축 방향에 따른 roughness를 상온에서 관찰후, 열을 가하면서 계면이 변화가 생기는지 여부를 보고자 합니다. > >roughness 등의 morphology, wetting성 등의 가능한 다양한 정보를 얻고 싶습니다. > >적합한 분석 tool이 있는지 궁금합니다. > >일깨워주시면 대단히 감사하겠습니다. -
답변
심용호님의 답변
2005-08-17- 0
일단은 윗분께서 추천한 AFM (Atomic Force Microscope) 방법이 제일 확실 할 것 같구요. 더불어서 표면의 소수성/친수성을 보고자 하면 contact angle을 측정하면 좋을 것 같습니다.