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지식나눔

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FT-IR로 SiO2 정량 분석을 할수 있다는데....

2006-01-20 org.kosen.entty.User@5273d664 이환희(hwan1945)
  • 1
FT-IR로 SiO2 정량 분석을 할수 있다고 하는데 어떻게 정량할 수 있는지..궁금하네요..(맞나요??) 분광학적 분석입문이라는 책을 보긴했는데...SiO2 정량에 관한 내용은 찾기 어렵네요.. 전공이 화학쪽이아니라.. 참고할만한 자료가 있으면 추천해 주셨으면 좋겠습니다..
  • FT-IR
  • SiO2
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답변 1
  • 답변

    서영욱님의 답변

    2006-01-24
    • 0
    >FT-IR로 SiO2 정량 분석을 할수 있다고 하는데 어떻게 정량할 수 있는지..궁금하네요..(맞나요??) > >분광학적 분석입문이라는 책을 보긴했는데...SiO2 정량에 관한 내용은 찾기 어렵네요.. > >전공이 화학쪽이아니라.. 참고할만한 자료가 있으면 추천해 주셨으면 좋겠습니다.. 기본적으로 FT-IR은 그 intensity가 sample의 양에 비례하므로 정양성이 있습니다. SiO2의 경우 도 특정 흡수/투과 wavenumber를 기준으로 Y-Axis의 intensitiy를 비교하면 정양적인 분석이 가능합니다.
    답변수정
    >FT-IR로 SiO2 정량 분석을 할수 있다고 하는데 어떻게 정량할 수 있는지..궁금하네요..(맞나요??) > >분광학적 분석입문이라는 책을 보긴했는데...SiO2 정량에 관한 내용은 찾기 어렵네요.. > >전공이 화학쪽이아니라.. 참고할만한 자료가 있으면 추천해 주셨으면 좋겠습니다.. 기본적으로 FT-IR은 그 intensity가 sample의 양에 비례하므로 정양성이 있습니다. SiO2의 경우 도 특정 흡수/투과 wavenumber를 기준으로 Y-Axis의 intensitiy를 비교하면 정양적인 분석이 가능합니다.
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