2006-02-01
org.kosen.entty.User@2f045fb4
조주웅(afkll)
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표면의 이물질 제거 평가를 위한 측정기기에 대한 문헌을 읽다가
XANES를 이용한 표면분석을 다룬 논문을 보게 되었습니다.
XANES을 X선 회절 분석기라고도 불리우는 것 같은데, 다음 사항에 대해 문의합니다.
1. XANES은 X선 회절 분석기라고 불리우는가?
2. XANES을 측정 분석의뢰가 기관은 어디인가?
3. XANES을 이용하면, 가장 작은 크기의 이미지는 얼마인가?
4. XANES으로 측정 불가능한 시편은 어떤것인가?
5. XANES의 간단한 동작원리?
- XANES
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각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
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답변 1
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답변
박훈님의 답변
2006-02-02- 0
> > >표면의 이물질 제거 평가를 위한 측정기기에 대한 문헌을 읽다가 >XANES를 이용한 표면분석을 다룬 논문을 보게 되었습니다. >XANES을 X선 회절 분석기라고도 불리우는 것 같은데, 다음 사항에 대해 문의합니다. > >1. XANES은 X선 회절 분석기라고 불리우는가? >2. XANES을 측정 분석의뢰가 기관은 어디인가? >3. XANES을 이용하면, 가장 작은 크기의 이미지는 얼마인가? >4. XANES으로 측정 불가능한 시편은 어떤것인가? >5. XANES의 간단한 동작원리? > > > > >잘은 모르지만 답변드립니다. 1. 회절분석은 Diffraction 즉 XRD를 말하는 것이고 XANES는 Hard X-ray를 이용한 특정 원소의 흡수단을 측정하는 것입니다. EXAFS와 동일한 것이지만 부분이 다른것입니다. 2. 포항방사광가속기의 EXAFS 라인이 일반적입니다. 3. 빔사이즈에 따라 다르지만 6 * 3 mm 이상되어야 할 것 같습니다. 4. 원자번호가 매우 큰 원소의 K-edge등은 측정이 좀 힘들수 있고 아주 작은경우 NEXAFS를 이용하시면 될 듯 합니다. 5. 원리는 EXAFS 책을 참고하십시오. 감사합니다. > > > > > > > > > > >