2007-02-27
org.kosen.entty.User@41258999
조규원(sniperjo)
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Tof-Sims(Surface Analysis by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectometry)측정가능한 곳이 국내에 있는지 알고 있습니다.
그리고, 샘플링 방법도 궁금합니다.
부탁드립니다.
- TOF-SIMS
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각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
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답변 3
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답변
김철홍님의 답변
2007-02-27- 0
제가 두군데 장비 다 사용해 보았는데, 다 좋습니다. 예전에 표준원장비 담당자가 SDI로 왔는데요, 그 친구에게 일단 연락해보세요. (SDI 김진모 박사, jinmo0527.kim@samsung.com) >Tof-Sims(Surface Analysis by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectometry)측정가능한 곳이 국내에 있는지 알고 있습니다. >그리고, 샘플링 방법도 궁금합니다. >부탁드립니다. -
답변
이영국님의 답변
2007-02-27- 0
대전 표준과학연구원에 SIMS가 있습니다. 국가연구원이니 누구나 분석 신청이 가능하지만, 시료가 많이 밀려있어 시간이 좀 걸립니다. -
답변
조주웅님의 답변
2007-02-27- 0
>Tof-Sims(Surface Analysis by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectometry)측정가능한 곳이 국내에 있는지 알고 있습니다. >그리고, 샘플링 방법도 궁금합니다. >부탁드립니다. http://www.kist.re.kr/intro/Sup_Group/Kist_assay_edu_02.asp?Over_01=004 - 시험절차 : 《 재료시험 》 SIMS http://www.kist.re.kr/intro/Sup_Group/Kist_assay_edu.asp?Over_01=004 - 시험기관 : 특성분석센터 최첨단 분석 장비와 최고의 연구 인력을 확보하고, 지난 40년간 축적된 경험과 기술로 NT, ET 및 BT 분야에서 KIST의 대형연구사업 지원뿐만 아니라, 국내외의 산업체, 대학 및 연구소의 연구수행에 필요한 분석지원, 분석교육 및 분석기술개발을 수행하는 국내 최고의 분석전문센터이다. 센터장 : 이 강봉 박사 Phone : 02) 958 5957 Fax : 02) 958 5969 Email : leekb@kist.re.kr