2008-08-26
org.kosen.entty.User@15d42324
최규석(seed77)
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XRD장비에서 파우더 시료를 측정할때는 Divergence slit, Antiscatter slit, Detector slit(Receiving slit)이런 부분을 조절해서 실험을 하는데요, 박막 시료를 측정할때 Soller slit 있는 것을 사용하는데요, 왜 박막을 측정할때는 Soller slit이 있는 것을 사용해서 하나요??
(파우더의 경우는 Bragg-Brentano Geometry, 박막은 Parallel beam Geometry 이런거 같은데요, 박막 시료를 Divergence, scatter, Detector 있는것으로 측정하면 측정이 잘 안되는것 같아요)
- soller
- Divergence
- slit
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답변 1
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답변
이훈희님의 답변
2008-08-26- 0
Soller slit or collimator를 이용하면 X-ray의 angle resolution을 좋게 할 수 있습니다. 대신에 X-ray가 slit을 통과하면서 X-ray의 intensity가 감소하게 되고 scattering이 증가하게 됩니다. 때문에 X-ray가 샘플을 “볼 수 있는“ 면적이 작아지게 됩니다. 이러한 효과는 박막일 경우 바람직하게 작용할 듯 합니다. X-ray 가 볼 수 있는 면적이 작아야 박막을 분석하는 데 좋겠지요. >XRD장비에서 파우더 시료를 측정할때는 Divergence slit, Antiscatter slit, Detector slit(Receiving slit)이런 부분을 조절해서 실험을 하는데요, 박막 시료를 측정할때 Soller slit 있는 것을 사용하는데요, 왜 박막을 측정할때는 Soller slit이 있는 것을 사용해서 하나요?? >(파우더의 경우는 Bragg-Brentano Geometry, 박막은 Parallel beam Geometry 이런거 같은데요, 박막 시료를 Divergence, scatter, Detector 있는것으로 측정하면 측정이 잘 안되는것 같아요)