2009-03-16
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polyethylene을 플라즈마 처리 후 생성된 반응기를 확인하기 위해
IR과 XPS분석을 한 결과,
IR에서는 C-H(1460)과 C=O (1698)피크가 발생하였습니다.
정량분석을 위한 XPS에서는 C=O, C-O-C, O-C=O, C-C, N=C와 같이 다양한 반응기가 생겼는데요...
IR이 단순히 정성분석이라면 왜 XPS에서 발생한 다양한 반응기들이 없고 단지 두개만 나타나는건지,
어짜피 XPS분석으로 IR의 반응기를 확인가능하다면 IR분석을 필요가 없는것이 아닌지요?
두가지 분석이 중복되므로 IR은 제외하고 XPS결과만 이용하면 되는건지 궁금합니다...
- IR
- XPS
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답변 2
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답변
이상후님의 답변
2009-03-16- 0
>polyethylene을 플라즈마 처리 후 생성된 반응기를 확인하기 위해 >IR과 XPS분석을 한 결과, >IR에서는 C-H(1460)과 C=O (1698)피크가 발생하였습니다. > >정량분석을 위한 XPS에서는 C=O, C-O-C, O-C=O, C-C, N=C와 같이 다양한 반응기가 생겼는데요... >IR이 단순히 정성분석이라면 왜 XPS에서 발생한 다양한 반응기들이 없고 단지 두개만 나타나는건지, >어짜피 XPS분석으로 IR의 반응기를 확인가능하다면 IR분석을 필요가 없는것이 아닌지요? > >두가지 분석이 중복되므로 IR은 제외하고 XPS결과만 이용하면 되는건지 궁금합니다... IR spectroscopy에서는 말 그대로 functional group의 확인을 위해 수행하는 기기 분석법인데, functional group에 따라서 absorption이 큰 경우도 있고 아니면 weak peak로 나오는 경우도 있습니다. 제 생각에는 IR spectrum에서 C-H(1460)과 C=O (1698)피크만 관찰되지는 않은거 같습니다. XPS에서 관찰된 모든 peak이 IR spectrum에서도 있을 것입니다. 다만 intensity의 차이 일뿐 입니다. 하지만 IR spectroscopy는 작용기 확인을 위해서는 반드시 사용해야 할 기기입니다. XPS에서 보여지는 peak가 false positive나 negative로 나올 수 있습니다. -
답변
안길홍님의 답변
2010-01-30- 0
>polyethylene을 플라즈마 처리 후 생성된 반응기를 확인하기 위해 >IR과 XPS분석을 한 결과, >IR에서는 C-H(1460)과 C=O (1698)피크가 발생하였습니다. > >정량분석을 위한 XPS에서는 C=O, C-O-C, O-C=O, C-C, N=C와 같이 다양한 반응기가 생겼는데요... >IR이 단순히 정성분석이라면 왜 XPS에서 발생한 다양한 반응기들이 없고 단지 두개만 나타나는건지, >어짜피 XPS분석으로 IR의 반응기를 확인가능하다면 IR분석을 필요가 없는것이 아닌지요? > >두가지 분석이 중복되므로 IR은 제외하고 XPS결과만 이용하면 되는건지 궁금합니다... 분석장비의 파장에 기인합니다. IR은 적외선 파장을 사용하고, XPS는 x-선 파장을 사용하기 때문에 IR에서는 비교적 높은 peak만 나타나며,XPS는 x선의 파장범위 까지도 나타납니다.