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CCP 방식에 Vdc값 monitoring 방법

안녕하세요? 궁금한게 있어서 여쭤봅니다. Source는 CCP방식입니다. 13.56MHz로 구동되고 matcher 단에서 low pass filter를 통해 나오는 Vdc 값을 모니터링합니다. 그런데 Source 전극에 anodizing처리를 했는데 품질이 좋지 못한 anodizing의 경우에는 Vdc 값이 "-"로 뜨는데 고품질 anodizing의 경우에는 "+"값을 띕니다. 고품질의 경우에는 CCP 소스면에서 완전히 floating되어서 그러는것 같은데 정확한 메카니즘을 이해할 수 없어서 문의드립니다. 왜 "+"값을 나타내는지에 대해 설명해 주실수 있는지요? 플라즈마 방전은 저품질이나 고품질 모두 이상없이 뜹니다.
  • 플라즈마
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답변 1
  • 답변

    안길홍님의 답변

    CCP방식으로 첨부한 자료와 거의 비슷할 것으로 생각합니다. 탐침(probe)에 의하여 측정되는 값이 (+)(-)로 anodizing된 상태에 따라 변동된다는 내용 같은데,표면상태의 품질에 따라 차이가 날 수 있습니다. Plasma에서 생각하여야 할 점은 ion theath와 electron theath(차폐) 및 debye's shielding distance입니다. ion theath상태일 때는 E<0이므로 (E=d/V) probe에서는 (-)로 읽게 됩니다. 즉 전자가 충분히 뻗어나가지 못하는 상태로써 전자가 차폐되어 있는 상태라고 할 수 있습니다. electron theath상태일 때는 E>0이므로 probe는 (+)읽게 됩니다.이는 역으로 이온이 충분히 뻗어 나가지 못하는 상태가 되겠습니다. 어떤 상태일 때가 좋은지 모르겠으나(ion이 많을 때,또는 전자가 많을 때)이를 조정하려면 첨부 그림의 간격d를 조정하면 가능하게 될 것입니다. 적용에는 하등의 문제가 없다고 하니 그대로 사용하시면 되겠습니다. (이온과 전자가 동등할 경우 E=0으로 됨)
    CCP방식으로 첨부한 자료와 거의 비슷할 것으로 생각합니다. 탐침(probe)에 의하여 측정되는 값이 (+)(-)로 anodizing된 상태에 따라 변동된다는 내용 같은데,표면상태의 품질에 따라 차이가 날 수 있습니다. Plasma에서 생각하여야 할 점은 ion theath와 electron theath(차폐) 및 debye's shielding distance입니다. ion theath상태일 때는 E<0이므로 (E=d/V) probe에서는 (-)로 읽게 됩니다. 즉 전자가 충분히 뻗어나가지 못하는 상태로써 전자가 차폐되어 있는 상태라고 할 수 있습니다. electron theath상태일 때는 E>0이므로 probe는 (+)읽게 됩니다.이는 역으로 이온이 충분히 뻗어 나가지 못하는 상태가 되겠습니다. 어떤 상태일 때가 좋은지 모르겠으나(ion이 많을 때,또는 전자가 많을 때)이를 조정하려면 첨부 그림의 간격d를 조정하면 가능하게 될 것입니다. 적용에는 하등의 문제가 없다고 하니 그대로 사용하시면 되겠습니다. (이온과 전자가 동등할 경우 E=0으로 됨)

    답변 감사드립니다.