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>polymeric nanofiber 두께 측정하려고 하는데요, >액체질소에 얼린후에 수술용메스를 이용해서 자른다음에 SEM찍는데요.. >확인해보면 fiber가 다 눌려서 찍히는데요, >방법이 있을까요?? 윗분의 답변처럼 SPM으로 분석이 가능합니다. SPM에 대해 좀 더 부가적인 설명드립니다. SPM은 Scanning Probe Microscope의 약자로서 물질의 표면특성을 원자단위까지 측정할 수 있는 새로운 개념의 현미경을 총칭하는 말이다. 우리나라에서는 원자현미경이라고도 합니다. 원자는 너무 작아서(0.1-0.5nm) 아무리 좋은 현미경로도 볼 수 없다는 기존의 통념을 깨뜨린 원자현미경은 제1세대인 광학현미경과 제2세대인 전자현미경 다음의 제3세대 현미경으로 자리 잡아가고 있죠. 광학현미경의 배율이 최고 수천배, 전자현미경(SEM)의 배율이 최고 수십 만 배인데 비해 원자현미경의 배율은 최고 수천만 배로서, 개개의 원자를 관찰할 수 있다. 투과식 전자현미경인 TEM도 수평방향의 분해능은 원자단위이나 수직방향의 분해능은 훨씬 떨어져 개개의 원자를 관찰할 수는 없습니다. 원자현미경의 수직방향의 분 해능은 수평방향보다 더욱 좋아서 원자지름의 수십 분의 일(0.01nm)까지도 측정해 낼 수 있습니다. SPM에는 원자현미경 계열 중 처음으로 등장한 STM2(Scanning Tunneling Microscope), 부도체 시료의 측정을 가능케 한 AFM(Atomic Force Microscope), 물질의 형상이외에 다른 특성들을 측정할 수 있는 MFM(Magnetic Force Microscope), LFM (Lateral Force Microscope), FMM(Force Modulation Microscope), EFM(Electrostatic Force Microscope), SCM(Scanning Capacitance Microscope) 그리고 EC-SPM(Electrochemistry SPM)등이 있습니다. 이러한 원자현미경 외에도 물질의 광 학적 특성을 빛의 파장 보다 훨씬 작은 분해능(~50nm)으로 알아내는 NSOM(Near-field Scanning Optical Microscope), 시료표면의 온도분포를 재는 SThM(Scanning Thermal Microscope) 등의 원자현미경이 있는데 아직은 널리 사용되고 있지 않으나 앞으 로 발전, 응용 가능성이 많다고 볼 수 있습니다. 현재 원자현미경은 주로 연구용과 산업용 분석, 측정 기기로 쓰이고 있습니다. 연마된 광학 렌즈나 증착막의 두께 및 굴곡도 측정에서부터 천연 광석의 표면분석에 이르기까지 종래 보다 더 작은 단위로 측정하려는 모든 곳에 활용되고 있습니다. 산업용으로는 반도체의 표면 계측, defect 분석, 콤팩트 디스크, 자기 디스크나 광자기 디스크 등에 쓰인 비트(bit)의 모양새 조사 등에 쓰이고 있 으며 최근 큰 성장을 보이고 있는 FPD(Flat Panel Display)의 제조 공정 분석 장비로도 활용되고 있습니다. 참고하세요.

>polymeric nanofiber 두께 측정하려고 하는데요, >액체질소에 얼린후에 수술용메스를 이용해서 자른다음에 SEM찍는데요.. >확인해보면 fiber가 다 눌려서 찍히는데요, >방법이 있을까요?? SPM(AFM)으로 가능합니다.