2010-07-19
org.kosen.entty.User@216a3de
한준희(enthink)
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Time dependent charge measurment 라는 방법이 있는 것으로 압니다.
비파괴 검사로 반도체 저항 측정하는 방법이라고 알고 있는데 자세히 알려 주세요.
혹시 이를 이용한 검사장비가 있으면 알려 주세요.
- TDCM
- 반도체
- carrier concentration
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각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
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