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실리카 입자에 다른 물질을 코팅해서 Photoluminescence meter로 광학 특성을 측정하고 있습니다.
코팅 후 세척과정에서 실리카 입자가 유실되는 것 같아서요..
UV-vis meter로 particle을 측정하면 peak이 없는 scattering된 형태가 보입니다.
이때, 실리카 입자에 코팅이 균일하게 이루어졌다면,
scattering peak의 Optical density를 샘플마다 맞춰줌으로써 농도가 같다고 볼 수 있나요??
- UV
- scattering
각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
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답변
강광철님의 답변
2011-12-19- 0
첨부파일
sample 마다 Optical density를 똑같게 줄수있는기가 관건일듯하네요.
또한 피크가 없다는것은 코팅이 안된다고 판단이되는데요...
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실리카 입자에 다른 물질을 코팅해서 Photoluminescence meter로 광학 특성을 측정하고 있습니다.
코팅 후 세척과정에서 실리카 입자가 유실되는 것 같아서요..
UV-vis meter로 particle을 측정하면 peak이 없는 scattering된 형태가 보입니다.
이때, 실리카 입자에 코팅이 균일하게 이루어졌다면,
scattering peak의 Optical density를 샘플마다 맞춰줌으로써 농도가 같다고 볼 수 있나요??
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답변
김형근님의 답변
2011-12-21- 0
광학적인 면보다 제 전공쪽인 코팅에 대해서 말씀 드리고 싶은데요,
먼저 윗 분과의 대화에서 코팅의 농도에 대해서 말씀하셨고 또한 세척을 했다고 했는데,
코팅이 실리카 입자에 잘 흡착이 되었는지 확인을 해야 할것 같습니다. zeta potential은 전위차로써 코팅의 charging에 대해 코팅의 두께를 가늠할 수 있는데, 실리카 코팅후 세척전후의 zeta potential을 측정해 보셨는지요. 분명 다르다면, 세척으로 인해 코팅층이 파손이 일어난것 가？ㄴ데, 이로 인해 optical density역시 다르지 않을까요?
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실리카 입자에 다른 물질을 코팅해서 Photoluminescence meter로 광학 특성을 측정하고 있습니다.
코팅 후 세척과정에서 실리카 입자가 유실되는 것 같아서요..
UV-vis meter로 particle을 측정하면 peak이 없는 scattering된 형태가 보입니다.
이때, 실리카 입자에 코팅이 균일하게 이루어졌다면,
scattering peak의 Optical density를 샘플마다 맞춰줌으로써 농도가 같다고 볼 수 있나요??
정지은(cimelia) 2011-12-21zeta potential로 측정하면서 실험하고 있습니다ㅎ
silica particle은 표면전위가 -인 것으로 알고 있습니다. silica particle 위에 양전하를 띄는 고분자, 음전하를 띄는 고분자를 교대로 쌓고 있는데 zeta 값이 +,-로 바뀌는 것을 보고 코팅이 된 걸로 볼 순 없나요...??
그리고 전위차로 코팅의 두께를 가늠할 수 있다고 해주셨는데 어떻게 가능한지도 설명 부탁드리고 싶어요^^
김형근(keun71) 2011-12-22일반적으로 zeta potential은 그 값이 +이던 -이던 상관없이 코팅의 두께가 두꺼워지면,그 zeta potential의 절대값이 커집니다. 그렇게 해서 코팅이 두꺼워진다는 말인것이지요. double layer가 형성이 되면, 안정적으로 분산이 되었다 하지만, 계속해서두꺼워진다면, 오히려 다시 다른 주변의 입자들과 agglomerate가 일어나 다시 settling이 됩니다. 안정적인 실리카에 코팅을 하시려면, 일단 실리카의 PEI를 보시면서 적당한 pH를 찾으시면 될것 같습니다. 그리고 코팅을 유지하기 위해선 세척또한 중요한 과정이 되겠네요.
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답변
한정현님의 답변
2011-12-21- 0
첨부파일
1. 우선 실리카 입자의 입도분포가 비교적 균일할 것
2. 코팅된 물질의 코팅 두께에 의해 전체 입도분포가 불균일하게 변화되지 않을 것
3. 위 두가지가 충족 된다면 입자들이 분산된 용액이 너무 투명하지 않은 범위에서 광학밀도를 재서 농도를 맞추는 것도 괜찬을 것 같습니다.
4. 단 형광에 의한 흡광이 없는 파장 범위에서 맞추어야합니다.
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실리카 입자에 다른 물질을 코팅해서 Photoluminescence meter로 광학 특성을 측정하고 있습니다.
코팅 후 세척과정에서 실리카 입자가 유실되는 것 같아서요..
UV-vis meter로 particle을 측정하면 peak이 없는 scattering된 형태가 보입니다.
이때, 실리카 입자에 코팅이 균일하게 이루어졌다면,
scattering peak의 Optical density를 샘플마다 맞춰줌으로써 농도가 같다고 볼 수 있나요??
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답변
김상태님의 답변
2011-12-30- 0
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실리카 입자에 다른 물질을 코팅해서 Photoluminescence meter로 광학 특성을 측정하고 있습니다.
코팅 후 세척과정에서 실리카 입자가 유실되는 것 같아서요..
UV-vis meter로 particle을 측정하면 peak이 없는 scattering된 형태가 보입니다.
이때, 실리카 입자에 코팅이 균일하게 이루어졌다면,
scattering peak의 Optical density를 샘플마다 맞춰줌으로써 농도가 같다고 볼 수 있나요??
-고체형 uv-vis spec을 사용하기 바랍
코팅한 물질의 농도가 매우 작다면 peak이 안보일 수 있지 않을까요??ㅠ
코팅된 건 zeta나 다른 기기로 확인해서요..ㅠ
형광고분자의 quantum yield를 찍을 때는 UV의 optical density를 맞춰주는 식으로 농도를 맞추는데, 분산 픽으로도 농도 맞추는 것이 가능한지가 궁금해요 ㅠㅠ
희석시키는 방법 등으로 분산 픽도 변화되더라구요...