2014-09-16
org.kosen.entty.User@74200c09
최성호(swiri313)
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풀프루프나 리탄, GSAS 등의 Rietveld프로그램들을 통한 분석에는 기본적으로 각 상에 대한 CIF파일이 필요한 걸로 알고 있습니다. 그런데 온라인 상의 데이타베이스에서 찾아보면 부분적인 내용만을 포함하여 실제 사용하려면 데이타를 추가해야 하는 걸로 보이는데요...
이게 논문으로부터 찾아서 채워 넣어야 하나요? 아니면 측정하여 보정한 값을 이용해야 하는 건가요? 후자라면 장비내 프로그램을 이용해야 하겠죠?
답변 부탁드립니다.
이게 논문으로부터 찾아서 채워 넣어야 하나요? 아니면 측정하여 보정한 값을 이용해야 하는 건가요? 후자라면 장비내 프로그램을 이용해야 하겠죠?
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- Rietveld
- CIF
- XRD
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각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
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답변 2
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답변
권오민님의 답변
2014-09-17- 3
안녕하세요
리트벨트를 하시는 분을 만나니 반갑네요
저도 X선, 중성자 회절데이터로 Rietveld 분석을 하고 있답니다.
저는 Rietan을 주로 쓰고 있는데요.
Rietan베이스로 설명드리도록 하겠습니다.
일단, 크게는 장치파라미터(?) / Profile function / 결정 구조 으로 나뉩니다.
장치파라미터는 말그대로 측정 장치의 X-선의 종류, 파장등, 측정장치의 컨디션을 입력해주는 부분입니다.
Profile function은 가우스, 로렌츠, 보이그 함수등을 이용해서 피팅을 하는 부분이지요.
마지막으로 질문하신 결정구조 정보는 앞에 답변해주신 분께서 잘 설명해주셨네요
기본적으로 보고되어있는 결정구조라면 논문이나 ICSD와 같은 결정구조 데이터 베이스에서 받아오시면 됩니다.
기본적인 정보: space group, 격자상수, x, y, z값, 점유율, 온도 인자 등을 복사해오시면 됩니다.
다른 질문사항이 있으면 연락주세요:)
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답변
전민구님의 답변
2014-09-16- 2
알고계신 대로 CIF 파일이 있으면 편하지만, polycrtalline인 경우 CIF를 제공하지 않는 경우가 많기 때문에 논문이나 문헌들로부터 refinement를 위한 자료를 찾아서 입력해야 합니다.
즉, 논문에 나와있는 space group, lattice parameter, position 등의 값을 이용하여 결정구조를 설정한 뒤에 Rietveld refinement를 수행하시면 됩니다.
측정하여 보정한 값 이용/장비 내 프로그램 이용이 무슨 의미인지 정확히 모르겠지만, 만약 분석을 원하시는 물질의 결정구조를 모르는 상태일 경우 여러 가지 가능성을 놓고 각각에 대해 refinement를 해보시는 방법을 추천드립니다.
리트벨트에대해 궁금한것이 많은데.. 더 여쭤봐도 될까요 ??