2014-11-13
org.kosen.entty.User@3c33922c
이돈성(korcsnet180)
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실리콘 나노 결정의 경우 XRD 측정 시 (111) 또는 (311) 피크가 굉장히 강하게 나타납니다.
하지만 TEM분석 진행 시 (211) 혹은 (200) 결정면이 나타나는데 여기에 의문점이 듭니다.
왜 XRD 결과상의 강한 피크들에 해당되는 결정면들이 TEM 분석시에는 나타나지 않는 경우가
생기는지요?
답변 부탁드립니다.
감사합니다.
하지만 TEM분석 진행 시 (211) 혹은 (200) 결정면이 나타나는데 여기에 의문점이 듭니다.
왜 XRD 결과상의 강한 피크들에 해당되는 결정면들이 TEM 분석시에는 나타나지 않는 경우가
생기는지요?
답변 부탁드립니다.
감사합니다.
- 실리콘 나노 결정
- XRD
- TEM
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각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
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답변 1
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답변
김용인님의 답변
2014-11-17- 2
첨부파일
일반적으로 XRD 측정시 강하게 나타나는 면들은 TEM에서도 많이 나타납니다.
하지만 TEM에서 Zone axis 따라 특정면이 나타날 수도 있고 나타나지 않을 수도 있습니다. 예를들어 Si 의 경우 Zone axis 가 <110>일 경우 {111}, {200}, {220}, {311} 면들이 나타납니다. 따라서 다른 Zone axis 에서는 다른 면들이 나타납니다. 물론 서로 다른 Zone axis 에서도 같은 family의 면들이 나올수도 있습니다. 그리고 diamond cubic 구조의 경우 (211) 면은 나타나지 않습니다.