지식나눔

실리콘 나노 결정의 XRD 및 TEM에 관하여

실리콘 나노 결정의 경우 XRD 측정 시 (111) 또는 (311) 피크가 굉장히 강하게 나타납니다.
하지만 TEM분석 진행 시 (211) 혹은 (200) 결정면이 나타나는데 여기에 의문점이 듭니다.
왜 XRD 결과상의 강한 피크들에 해당되는 결정면들이 TEM 분석시에는 나타나지 않는 경우가
생기는지요?
답변 부탁드립니다.
감사합니다.
  • 실리콘 나노 결정
  • XRD
  • TEM
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답변 1
  • 답변

    김용인님의 답변

    첨부파일

    일반적으로 XRD 측정시 강하게 나타나는 면들은 TEM에서도 많이 나타납니다.
    하지만 TEM에서 Zone axis 따라 특정면이 나타날 수도 있고 나타나지 않을 수도 있습니다. 예를들어 Si 의 경우 Zone axis 가 <110>일 경우 {111}, {200}, {220}, {311} 면들이 나타납니다. 따라서 다른 Zone axis 에서는 다른 면들이 나타납니다. 물론 서로 다른 Zone axis 에서도 같은 family의 면들이 나올수도 있습니다. 그리고 diamond cubic 구조의 경우 (211) 면은 나타나지 않습니다.  
     
    일반적으로 XRD 측정시 강하게 나타나는 면들은 TEM에서도 많이 나타납니다.
    하지만 TEM에서 Zone axis 따라 특정면이 나타날 수도 있고 나타나지 않을 수도 있습니다. 예를들어 Si 의 경우 Zone axis 가 <110>일 경우 {111}, {200}, {220}, {311} 면들이 나타납니다. 따라서 다른 Zone axis 에서는 다른 면들이 나타납니다. 물론 서로 다른 Zone axis 에서도 같은 family의 면들이 나올수도 있습니다. 그리고 diamond cubic 구조의 경우 (211) 면은 나타나지 않습니다.  
     
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