2015-03-20
org.kosen.entty.User@4775bede
변성천(rg1000)
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C-AFM를 이용하여 topo 이미지 아니라 current 이미지를 보고자 하는 분이 있습니다. 그런데, 그것이 그래핀이고 링형태로 되어 있다고 합니다. 링사이즈는 10nm 정도이고요. 이것을 C-AFM으로 분석하는것이 가능할까요. 일단 C-AFM에 사용되는 팁 반경이 20~40nm 사이에 있습니다. 그런데, 분석한 이미지가 있더라고요. 이런것으로 어떻게 분석하면 될까요?
http://www.nature.com/nphys/journal/v10/n6/fig_tab/nphys2954_F2.html
http://www.nature.com/nphys/journal/v10/n6/fig_tab/nphys2954_F2.html
- C-AFM
- 그래핀
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답변 1
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답변
이정아님의 답변
2015-03-20- 1
일반적인 경우 C-AFM은 sample bias를 주고 tip은 Ground상태에서 측정을 하기 때문에 전극 구성을 한 다음 측정이 이루어져야 하는 것으로 알고 있습니다. 통상적으로 TIP Approach를 시키고 bias를 인가하면서 천천히 sample의 topo와 current map을 측정한 다음 I/V spectroscopy로 가서 특정 spot이나 map 기능을 이용해서 측정을 하는데 이때 전압은 -10에서 10V 범위에서 측정하는 것이 가능하고 전류의 경우는 external 기능을 활용해서 current range를 조절해 가면서 값을 얻으셔야 합니다.
지금까지 c-afm과 관련하여 너무나 당연한 말씀을 드렸을 수도 있지만 그런 다음 범위를 줄여가면서 확인하고 Image processing 프로그램으로 분석을 해야 겠지요.
답변 감사합니다. 제 이야기는 다른 것이 아니라 어느 정도 작은 영역에서 토포이미지와 전류이미지를 얻을 수 있는지가 궁금합니다 일반적으로 토포이미지도 이미지 사이즈 1um 미만에서는 tip 크기에 영향을 받습니다. 그런데, 전류를 측정할 수 있는 팁은 사이즈가 커서 이미지 크기가 1um에서도 선명한 이미지를 얻기가 어렵습니다. 그런데, 참조하고 있는 논문의 이미지는 이미지 크기가 대략 100nm미만이더군요. 이런 이미지가 얻어지는지... 얻을려면 상당한 시간이 소요됬을 것같은데...