2015-05-21
org.kosen.entty.User@4176496
김진현(jinhyunkim)
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박막 Uv_vis 측정하는데요,
제가 적분구을 사용했습니다.
그래서 이 기기가 투과도 랑 반사도을 따로 측정하는데 박막이 결정질이 높아서
정확한 측정을 위해 relative speccular reflectance mode 을 사용했습니다. 인시던트 각을 8도 정도 줘서 더 정확하게 찍는다는걸로 알고 있는데....
문제는 일정 구간에서의 반사도가 너무 크다는거에요 60% 정도?
다른 동료랑 이야기해보니까 혹시 결정도가 큰 박막이라 PL 피크가 들어간게 아니냐고 하는데.
제 상식선에서 PL피크가 Uv-Vis 에 검출된다는게 좀 .. 노이즈로는 나올수 있어도
흡광 영역보다 살짝 뒤에 나오는 PL 픽인데 Uv-Vis는 인시던트 소스 파장과 측정파장이 동일해서 PL이 디텍터로 들어가기 힘들지 않나요? 들어가도 적은양이고 PL 효율이라는것도 그게 ,,,
혹시 이런경험 있으시거나 아시는분있나요? 그걸 제거하는 방법이 있나요?
제가 적분구을 사용했습니다.
그래서 이 기기가 투과도 랑 반사도을 따로 측정하는데 박막이 결정질이 높아서
정확한 측정을 위해 relative speccular reflectance mode 을 사용했습니다. 인시던트 각을 8도 정도 줘서 더 정확하게 찍는다는걸로 알고 있는데....
문제는 일정 구간에서의 반사도가 너무 크다는거에요 60% 정도?
다른 동료랑 이야기해보니까 혹시 결정도가 큰 박막이라 PL 피크가 들어간게 아니냐고 하는데.
제 상식선에서 PL피크가 Uv-Vis 에 검출된다는게 좀 .. 노이즈로는 나올수 있어도
흡광 영역보다 살짝 뒤에 나오는 PL 픽인데 Uv-Vis는 인시던트 소스 파장과 측정파장이 동일해서 PL이 디텍터로 들어가기 힘들지 않나요? 들어가도 적은양이고 PL 효율이라는것도 그게 ,,,
혹시 이런경험 있으시거나 아시는분있나요? 그걸 제거하는 방법이 있나요?
- 분광학
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각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
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