2015-06-23
org.kosen.entty.User@38c4da22
김종민(jjongs41)
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텅스텐 분석 방법중에 AAS를 제외한 다른 방법이 궁금해서 글남깁니다.
UV-vis나 다른형태로 텅스텐을 분석할 수 있는 방법이 있을까요?? 혹시 관련 논문이나 방법아시면 좀 알려주세요.
UV-vis나 다른형태로 텅스텐을 분석할 수 있는 방법이 있을까요?? 혹시 관련 논문이나 방법아시면 좀 알려주세요.
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답변 4
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답변
김강형님의 답변
2015-06-23- 2
첨부파일
성분분석에서 가장 많이 쓰이는 방법으로는 아크분광분석과 유도쌍플라즈마 (ICP)분석이 가장 많이 쓰입니다.
이외에도 대략적으로 불순물들의 성분 종류를 검사하는 XRF분석을 하고 정량분석으로 위의 방법으로 원소를 지정하여 분석하곤 합니다. 만약 국부적인 미세 입자의 성분분석같은 경우는 SEM에 시편을 넣고 부착된 EDX장비로 그 부분을 분석하는 것도 방법입니다. 하지만 알고 있는 원소에 대해서만 지정하여 분석할 수 있어 정량분석으로는 부적합하고 대략적인 조성만 아는데 쓰입니다.
아크분광분석법은 분석할 원소들을 함유한 표준시편들을 함량별로 잘 갖추고 있으면 빠르고 정확한 분석방법입니다.
ICP는 산용액에 녹인 후에 플라즈마로 태워서 나오는 빛을 분광하여 분석하기 때문에 녹이는 시간이 며칠 필요합니다.
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답변
김채형님의 답변
2015-06-23- 2
첨부파일
ICP-MS에 의한 Tungsten Matrix 중의 미량원소분석 입니다. 아마 찾으시는 논문인듯.. -
답변
강광철님의 답변
2015-06-24- 2
EDX 나 XRF 는 오차가 % 정도 나올수 있는 분석 방법이라서 정밀 분석에는 ICP 방법이 유용할것 같네요. -
답변
변성천님의 답변
2015-06-26- 2
ICP-MS가 정확하다고 합니다. 하지만, 샘플을 녹여서 액체 상태로 만드는 작업이 좀 그렇죠. 샘플이 있는 상태로 성분 분석하기에는 주사전자현미경, EPMA와 XRF 등이 있습니다. 주사전자현미경에 장착된 EDS와 ED-XRF는 미량 검출이 어렵습니다. 보통 0.1wt이상이 최저 검출한계라고 합니다. 그러나 보통 1% 가까이 있지 않으면 피크인지 노이즈인지 구별하기 어렵습니다. 그래서, 미량 분석이 중요한 경우에는 EPMA에 장착된 WDS 와 WD-XRF 를 추천합니다. 샘플에 전자 혹은 X선을 조사하여 샘플에서 나오는 특성 X선을 WDS로 분석하는 타입입니다. WDS는 분석시간은 좀 오래 걸리지만, 수 ppm까지 측정할 수 있는 것으로 알고 있습니다.