2016-01-08
org.kosen.entty.User@2790cdff
김병우(jgbw)
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xrd로 탄소물질을 분석중입니다.
저의 연구실은 quartz 기판을 쓰는데 amorphous carbon이랑 quartz 기판의 peak이 일치해서 원하는 정보를 얻기가 힘드네요.
다른 기판은 없는지, 있다면 어떻게 구할 수 있는지, 혹시 다른 방법이 있는지 아시는 분의 답변을 부탁드립니다.
저의 연구실은 quartz 기판을 쓰는데 amorphous carbon이랑 quartz 기판의 peak이 일치해서 원하는 정보를 얻기가 힘드네요.
다른 기판은 없는지, 있다면 어떻게 구할 수 있는지, 혹시 다른 방법이 있는지 아시는 분의 답변을 부탁드립니다.
- xrd
- 기판
- 탄소
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각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
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답변 3
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답변
김종수님의 답변
2016-01-08- 2
xrd는 어느 기판을 사용하든 문제 없는 것으로 알고 있습니다 최근에 저의 경우는 pentacene이라는 유기물질을 공동기기원에서 xrd를 찍었는데 기판은 실리콘 옥사이드를 사용하였고 그 당시 기판에 관해 물어볼때 어느 기판이든 상관 없다고 들었고 특히 글라스위에서 찍기가 편하다고 들었습니다.
질문자님이 시료인 amorphous carbon과 피크가 겹치지 않는 기판을 찾으신다면 실리콘이나 실리콘 옥사이드 및 글라스도 괜찮을 것으로 생각됩니다. -
답변
신동협님의 답변
2016-01-10- 2
안녕하세요.
혹시 샘플의 두께가 마이크로 미터 단위라면 2 theta scan 혹은 glancing angle scan 으로도 박막의 회절 패턴을 얻을 수 있습니다. 기타 자세한 사항은 장치 담당자분께서 알고 계실 것으로 생각되어 상담을 해보시는 것도 좋을 것으로 생각됩니다.
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답변
이수용님의 답변
2016-01-13- 2
첨부파일
zero diffraction Si 기판을 고려해 보시기 바랍니다.
'zero diffraction'이라고 해서 회절 패턴이 아예 안나오는 것은 아닙니다.
surface normal 방향으로 high index plane이 배향되어 있어 Si peak은 100도 이상에서 뜹니다.
따라서 일반적인 저각(80도 이내)에서는 peak이 뜨지 않고, 현재 문제가 되고 있는 비정질 상에 의한 small angle diffraction도 나타나지 않을 것입니다.
제품 사양은 아래 사이트를 참조하세요.
http://www.mtixtl.com/Zero-Si-17.8D10C1-Cavity.aspx
분말 시료 같은 경우에는 사이트에서 보시는 것과 같은 cavity가 있는 홀더를 쓰시면 될 것 같고요, 시료가 기판의 형태라면 flat 홀더 위에 양면 테입 등을 이용해서 고정하신 후 측정하면 될 것 같습니다.
그럼, 도움이 됐길 바랍니다.