2017-06-29
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김성수(zero1521)
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AFM 샘플을 만들 때 sample의 thickness를 일정하게 하기 매우 어려운데 spin coating을 해도 괜찮은가요? 그리고 샘플을 찍을때 glass를 잡는 부분을 찍는건가요? 정확히 몰라서 설명을 드리기 어려우나 18mm glass의 어느 부분을 제대로 코팅해야 AFM데이터로 쓰기 좋은지 알고 싶습니다.
ex) 중심부분 또는 모서리 부분
cantilever의 끝부분이 샘플 glass의 어느 위치든 지정할수있는건가요?
ex) 중심부분 또는 모서리 부분
cantilever의 끝부분이 샘플 glass의 어느 위치든 지정할수있는건가요?
- AFM
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답변 3
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답변
최규석님의 답변
2017-06-29- 1
안녕하세요.
일단 기판을 annealing하시면 증착을 한다던지 스핀코팅을 한다던지 할때 기판이 개선이되어
시료가 비교적 일정하게됩니다.(논문들 많이 보시면 일반적으로 기판을 개선하기 위해서
제일 많이 하는 방법 입니다.)
기판에 원래 화학적 흡착을 잘하는 시료라고 한다면 monolayer를 만들기 위해서는 스핀코팅
이나 렝뮤어 방법을 하시면 잘 될것입니다.(drop을 해서 만드는 방법도 있지만요.)
AFM 측정시에는 위치를 옮겨가면서 측정을 해서 본인이 원하는 이미지를 얻을수 있는 부분을
찾으시면 됩니다. (이렇게 하기 전에 분광학적인 데이터를 얻어서 찾고 하실 수도 있지만요..)
하지만 시료 스테이지(피에조)의 한계가 있기때문에 시료를 계속 옮겨가면서 전체를 다 볼수
없습니다. 아울러 시간부분도 그렇고요. 그래서 스핀코팅을 한 시료이고 스핀코팅이 잘 됐다라는
가정을 하고 시료의 가운데 부분에서 이미지를 먼저 얻어보시면 될 것 같습니다.
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답변
이정아님의 답변
2017-06-30- 1
질문 내용에 대해서 답변 드리기 앞서서 구체적으로 샘플 상태나 원하는 실험 결과가 어떤 것인지 다시 올려 주시면 도움을 드릴 수 있을 것 같습니다.
그러나 일단 올리신 내용을 중심으로 보면 spin coating을 한다는 부분은 AFM 측정에 있어서 적합하지 않습니다. AFM은 캔틸레버 팁을 contact이나 non-contact mode로 표면에 접촉 또는 근사시켜 표면 상태를 얻는 측정법으로 샘플 표면에 스핀 코팅을 한다면 왜곡된 실험 결과를 얻을 수 밖에 없을 것으로 생각됩니다. 또 STM의 경우 도체와 반도체로 측정 샘플이 제한되지만 그 대안으로 나온 것이 AFM임을 고려하면 정확히 어떤 부분을 측정하시고자 하는지 다시 올려 주시기 바랍니다.
만약 고분자 계열을 스핀코팅해서 경화시킨 다음 AFM을 관찰하고자 한다면 non-contact mode로 측정하는 것은 가능할 것으로 생각됩니다. 일단 non-contact으로 측정을 해 보시고 표면 굴곡상태에 대한 정보가 잘 얻어지지 않았다면 SEM 샘플링 할 때 사용하는 coater를 이용하여 아주 짧게 금속박막을 코팅해 볼 수도 있을 것 같습니다만 AFM 측정시에는 이런 방법은 conductive-AFM과 같이 전기장을 tip 끝단에 집중시킬 때 고려할 수 있는 방법이기 때문에 권해드리고 싶지는 않습니다. -
답변
안강우님의 답변
2017-08-11- 1
샘플에 따라 다르겠지만 스핀코팅을 하더라도 경화되는 물질이 아니면 AFM측정시 팁이 움직일때 샘플도 변화가 생길수 있을것 같습니다.