2018-01-12
org.kosen.entty.User@5cd6656c
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제목과 같이 라만이나 FTIR 분석 시, 수백마이크로미터 크기의 마이크로구조물 '내'에서의 조성을 보려고 합니다.
지면, 100 um, 꼭대기 부분 식으로.... 이럴 때, RAMAN 이나 FTIR 워킹챔버에 넣고 각 부분을 분석할 수 있는
align 이 가능한 기계가 있나요...?
지면, 100 um, 꼭대기 부분 식으로.... 이럴 때, RAMAN 이나 FTIR 워킹챔버에 넣고 각 부분을 분석할 수 있는
align 이 가능한 기계가 있나요...?
- raman
- ft-ir
- spectroscopy
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답변 8
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답변
강광철님의 답변
2018-01-13- 1
IR 이나 라만으로 수백마이크로의 구조물을 확인하기는 어려울것 같습니다.
조성을 보시려면 SEM이나 TEM을 찍으면서 그부분을 확대 하셔서 EDX찍으셔서 성분 분석하시면
수백 마이크로 크기는 분석이 가능할것 같네요..옆에서 보시면서하시면요... -
답변
김철주님의 답변
2018-01-13- 1
일단 라만이나 FT-IR은 투과되거나 반사시켜서 디텍터로 보내지않으면 분석이 되지않습니다.
따라서 수백마이크로정도의 구조물 '내부'의 조성을 알기에는 어려울듯 보입니다만...
자세한 내용을 알수가 없지만 그래도 FTIR악세서리 중 활용가능할 법한 것들을 말씀해드리면...
일단 ATR로 지면이나 꼭대기부분의 표면분석이 가능할 것 같습니다.
표면이라 할지라도 수um정도는 크리스탈 종류나 입사각도를 조절하며 depth를 조절할 수 있습니다. 또한 ATR 악세서리에 따라서도 수십마이크로까지 depth조절이 가능하기도 합니다.
PIKE사에서 나오는 악세서리 중 'VeeMAX III with ATR – Variable Angle, Single Reflection ATR for Depth Profiling Studies' 를 참조해보세요. 적혀있기로는 '0.4 to 46 micron depth of penetration' 이 가능하다고 합니다. 물론 샘플 종류에 따라서 한계가 있어보입니다.
그리고 JASCO사의 FTIR 악세서리 중 ATR PRO ONE VIEW라는 것이 있네요
현미경으로 관찰하며 측정이 가능하다고 합니다. 특징으로 샘플에서 측정되는 부위를 명확히
알 수 있다고 합니다. 이것도 ATR이긴 합니다...
마이크로 구조물을 자유롭게 움직일 수 있다면 ATR로 이쪽저쪽 눕혀가며 시도해볼만 할 것은 같습니다.
그리고 diffuse reflectance라는 것이 있는데 아주 큰 시료도 측정이 가능한 악세서리입니다.
한국어로 말하자면 확산반사를 이용하여 측정하는 것인데, 사용예시로는 체리의 당도에 대해서 비파괴정량을 한 예시가 있군요... 체리정도의 크기도 가능한 것 같습니다.
수백마이크로 크기도 가능한 것 같은데...
https://jascoinc.com/products/spectroscopy/ftir-spectrometers/ftir-accessories/diffuse-reflectance/ 여기를 한번 참고해보세요.
문제는 국소적 분석이 가능할 것 같지는 않습니다...
그리고 말씀드린 악세서리를 보유하고 있는 곳이 있는지가 문제이긴 합니다.
ATR정도는 보통 가지고 있으니 시도해볼만 할 것 같습니다.
그리고 ThermoFisher scientific이나 JASCO 등의 FTIR과 라만기기를 다루는 업체 혹은 PIKE tech.과 같이 악세서리들을 다루는 업체에 연락하여 상담을 받아보시는 것도 좋을 것 같습니다.
김철주(rlacjfwn12) 2018-01-13윗분이 원소분석 쪽도 말씀해주셨는데 TEM은 시료전처리가 워낙 어려우니 힘들것 같고 FE-SEM상에서 원소분석도 가능하니 한번 알아보시기 바랍니다... 그리고 혹시몰라 적습니다만 제가 적은 글에 depth 조절이 가능하다는 말의 뜻은 IR빔이 시료표면에서 반사될때 시료 내부로 어느정도의 깊이로 침투(?)하는지에 대한 말입니다.
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최규석님의 답변
2018-01-15- 1
안녕하세요.
(그냥 1 point만 볼 거면 간단하고요)
일반적으로 SEM으로 구조물을 보면 잘 보일 거예요. 그래서 사람들이 라만 peak이
나올꺼니까 라만으로 접근을 하는데요.
일단 가능합니다. 그런데 시료 조건이 있습니다. 피라미드 형태의 시료의 경우
피라미드를 그냥 맵핑하게 되면 위부분의 형태는 나오지 않습니다. 즉 그냥 아래모양이
육각형이면 육각형모양 또는 원으로 보입니다. 그렇지 때문에 구조물을 옆으로 놓을 수
있도록 만들면 됩니다. (연필을 깍고 옆으로 놓았을때를 생각해보세요. 연필 끝부분을 생각하시면 됩니다. 그러면 당연히 맴핑이 가능하겠죠. 즉 옆으로 본 모습을 얻을 수 있다는 거죠.
그런 후 반사 모드를 이용한 원래 세워져 있는 이미지를 3D 스캔을 하시면 이미지는
그 구조물 형태로 나옵니다.(반사모드로 그냥 이미지만 나오게 측정)
그래서 라만 실험조건등을 기술하시고 실제 이미지는 SEM이나 반사모드의 이미지가 맞다
라고 하셔도 되지 않을까 생각이 됩니다.
마이크로 IR로 접근시에도 이런식으로 시료를 셋팅해야 볼 수 있습니다.
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신동협님의 답변
2018-01-15- 1
안녕하세요.
라만 장비 중 현미경이 부착된 micro Raman 장비는 국소부위의 물성을 분석할 수 있는 것으로 알고 있습니다.
참고 웹사이트:
http://www.horiba.com/us/en/scientific/products/raman-spectroscopy/raman-academy/raman-tutorial/micro-raman/
https://en.wikipedia.org/wiki/Raman_spectroscopy#Microspectroscopy -
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조윤환님의 답변
2018-01-15- 1
반갑습니다.
많은 분들이 답변을 주셨습니다만, 질문자께서는 align이 가능한 장비, 즉 mapping이 가능한 장비를 찾고 있는 것 같습니다.
IR장비 중 mapping이 가능한 장비는 IR microscope라는 이름으로 불립니다.
Nicolet™ iN™10 Infrared Microscope가 대표적인 장비인데......인터넷에서 Infrared imaging, IR surface mapping 등의 키워드로 찾으시면 여러 자료를 찾으실 수 있을 겁니다.
Raman도 동일한 방법으로 자료를 찾으시면 됩니다. 분광학 기법을 이용한 맵핑은 꽤 구체화된 연구분야기 때문에 많은 자료가 존재 합니다. 참고하시길.
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답변
주형국님의 답변
2018-01-19- 1
위에 잘 설명해 주신 분석법 이외에도 아래 방법도 참고 하시기 바랍니다.
1. Auger spectra 분석을 통한 depth profiling : 샘플의 깊에 따른 원소 함량 분석 가능
2. 샘플을 ion-milling 공정 혹은 에칭공정으로 깍아 가서면 SEM/EDX 맵핑 혹은 TEM/SAED 패턴 분석
3. 그리고 다른 depth profiling 분석들도 알아 보시기 바랍니다. (http://www.nanolabtechnologies.com/depth-profiling) -
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정찬희님의 답변
2018-02-09- 1
EDS와 XRD로 확인하실수 있을것 같습니다. -
답변
김아영님의 답변
2018-02-14- 1
대면적 조성 분석은 EDX가 괜찮을거 같은데요.
근데 말씀하신대로 높이에 따라 조성을 다르게 보는건 EDX로는 어려울것 같습니다.
TEM 사용하기에는 시료전처리가 너무 까다로워서요... 답변 감사드립니다.