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AFM를 이용하여 그래핀을 분석중에 생긴 일입니다.
5um X 5um 크기로 임의의 영역을 분석하고 낮은 단차의 그래핀을 1um X 1um 크기로 다시 분석하고자 하였습니다.
일단 5um X 5um 크기의 이미지는 잘 나왔습니다.
그래서 원하는 영역을 1um X 1um 크기로 다시 분석하였습니다.
그런데, 원하는 이미지가 나오지 않았습니다.
처음에는 뭐가 잘못 된것 같다고 생각했습니다.
그런데, 몇 차례 시도를 하다보니, 5um X 5um 영역에서는 별 문제없이 분석되지만,
1um X 1um 영역에서는 실리콘 기판에 붙어 있던 그래핀이 프로브의 힘에 의해 밀리는 것입니다.
그래서 다시 그 자리를 분석해 보면, 이미지가 처음에 분석한 것과는 다르게 나오는 것입니다.
5um X 5um 나 1um X 1um 에서 탬핑모드에서 분석되었고, setpoint는 동일합니다.
단지 scan rate만 다릅니다.
setpoint를 달리 했다면 그럴수 있다고 생각되는데, 같은 setpoint에서 이런 현상이 생겨서 이해가 되지 않네요.
setpoint를 아주 작게 하여 시도하였지만, 해결은 되지 않았습니다.
어떤 문제가 있을까요?
- AFM
- 그래핀
각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
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답변
김주남님의 답변
2023-12-27- 1
Non Contact mode로 하시던지, DFM mode로 하시고, 무엇을 보기 위해 확대하셨는지는 모르겠지만, 원자 결함 같은 것을 보시려면, AFM으로는 한계가 있습니다.
Turnneling mode로 관측할 수도 있기는하지만, 어떤 시스템을 쓰고 계시는지 모르니 언뜻 말하기 힘드네요.
2차원 물질의 경우 AFM으로는 전체적인 형태, 두께 측정 정도로 많이 씁니다.
무엇을 보고 싶은지 정확히 말씀해주시면 좀더 이야기 할 수 있을거 같네요.
형태 및 단차를 확인하기 위한 목적입니다. 감사합니다. STM으로 분석하는 것은 꽤 어렵다고 알고 있습니다.