2025-01-13
org.kosen.entty.User@745ccc8a
익명
- 1
안녕하세요.
XPS 표면 분석 진행을 하고자 하는 비전공자 대학원생입니다.
한 가지 궁금한 점이 공부를 해도 풀리지 않아 여쭤보고자 글을 올립니다.
혹시 고분자의 개질화가 아닌, 다른 고분자와 결합이 되어도 표면 분석이 가능할까요?
(고분자와 고분자를 연결하여, conjugation 된 yield를 원소비로 파악하고자 합니다.
A 고분자에는 O, B 고분자에는 N이 존재)
결합을 통해 표면 분석으로 나오는 원소의 Intensity에 영향이 있는지 궁금합니다.
이 질문에 대한 답을 아시는 선배님들께 답변주시기를 부탁드립니다.
감사합니다.
- XPS
- 표면분석
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각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
답변 1
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답변
전재완님의 답변
2025-01-16- 1
답변 드립니다.
빔을 비추는 해당 면에 대한 분석은 가능합니다. (한 면의 분석에서 전체에 대한 비율은 어떠하다 라는 것은 추천하지 않습니다.)
따라서, 분석 하시고자하는 해당 샘플의 임의의 표면 몇 군데를 분석하여 평균적으로 이 샘플의 결합 비율은 어떠하다 라는 분석은 가능합니다.
그러나, 분석해보시면 아시겠지만, peak intensity noise 심하면 분석이 힘들 수 있으며, XPS는 파괴분석이다보니 같은 면을 몇번씩 분석하면 표면 조성이 변화하므로 결과값도 다르게 분석됩니다.