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2D 금속 - 절연체 전이

이차원 전하 캐리어 시스템에서, 잘되는 상호 작용의 부재하에 장애의 금액 알려져 캐리어 사이 선도, 캐리어 지역화 것이다 온도로 제로 전도성 절연체로 T 제로로 감소된다. 높은 이동성에 대한 최근의 실험 묽은 2D 시스템은, 다른 한편으로는, 도시 한 증가하는 것을 특징으로 낮은 T의 '금속'동작, T가 감소함에 따라 전도성 및 명백한 금속 - 절연체 전이 캐리어 밀도 (MIT)를 낮아진다. 의 비율 인 이러한 시스템의 페르미 에너지로 상호 작용 에너지 R의 S가 약 10 이상인 상호 작용 역할을해야 함을 의미한다.

우리는 매우 높은 이동성을 호스팅하는 신규 한 장치를 제작했다 2D 홀 시스템. 3X10의 구멍 밀도로 이동 (10) 는 CM -2 1.8x10 주위 6 센티미터 2 / 대. 이는 높은 이동성은 우리가 상호 작용 효과가 높은 매우 묽은 정권 밀도를 낮출 수있다. 이 시스템에서, 우리는 P는의 임계 밀도에 MIT를 관찰 C = 3 × 9 CM -2 , 지금까지 관측 된 가장 낮은.
MIT

자장 유도 절연막 상

많은 연구에서 backgated 저밀도 이차원 탐색 정공 샘플 들 정권 발명자 의외로 풍부 상 다이어그램. 가장 높은 밀도에서, 옆에 N = 3 분, 2/3 및 2/5 분수 양자 홀 상태, 우리는 절연 이전에보고 된 높은 필드의 모두를 관찰 단계 절연 재진입. 밀도가 저하되기 때문에, 초기 단계의 절연 재진입 강화 후 갑자기 완전히 사라져까지 약화 시작한다. 더 낮은에서 밀도가 다른 절연 단계는 그 reetrant 절연체 다른 나타납니다. 마지막에 가장 낮은에서 터미널 양자 홀 상태로 이동 밀도를 N을 = 3 분에 N = 1. 복잡 절연막상의 동작에 비 - 단조 용융 선에 의해 설명 될 수 N - R 의 위상 공간.
절연

쿨롱 드래그 실험

묽은 2D 구멍 층간 쿨롱 드래그

쿨롱 드래그 실험은 직접이 독립된 전자 시스템 간의 전자 - 전자 산란 비율을 프로빙 신규 전송 측정 기술이다. 쿨롱 드래그 실험의 대부분은 이중층 2 차원 전자 또는 정공 시스템에서 수행되었다. 이전의 실험에서 드래그 캐리어 밀도 상관 효과가 무시 될 수 있다는 것을 충분히 높은 있었다. 상관 효과 연구와 중요 희석 더블 레이어 두 차원 구멍 시스템에 최근에, 우리가 수행 한 드래그 측정 의 19에서 39까지의 값은 우리의 간단한 볼츠만 계산 및 편차를 통해 드래그의 강한 향상을 관찰 T 이 매개 포논, 플라즈몬 강화, 또는 장애 관련 프로세스에 의해 설명 할 수없는 의존성. 우리는이 편차가 희석 정권에 상관 효과로 인한 것이 좋습니다.

1D 전자 시스템 간의 쿨롱 드래그

다양한 재료와 나노 와이어의 제조에서 기술 개발과 함께, 그 하나의 차원에서 쿨롱 드래그 실험을 실현하는 것이 가능하다. 일차원 전자 시스템에서, 전자 - 전자 상호 작용은 액체 Luttinger 이론에 의해 설명 된 시스템을 확보. 이것은 낮은 온도에서 드래그의 T-의존성 독특한 행동으로 이어질 것입니다. 성공적인 실험이 수행 될 아직되었지만, 이론적 인 연구와 일차원 드래그 예측에 많이있어왔다. 아주 몇몇 시도는 지금까지와 같은 간 와이어 터널링 효과 등의 기술적 인 문제가 있었다보고했다. 실험실에서는, 수십 나노 미터에 의해 분리 평행 나노 와이어로 구성 장치를 만들고, 쿨롱 드래그 실험에서 사용하기 위해 첨단 나노 제작 기술을 사용한다. 본 연구에 사용 된 나노 와이어는 탄소 나노 튜브 및 각종 반도체 나노 와이어를 포함한다.