ㆍ Low voltage and low power devices and circuits (저전력, 저전압 소자 및 회로)
ㆍ Next generation memory devices and circuits (차세대 메모리 소자 및 회로)
ㆍ Memory design and design for testability (메모리 설계 및 테스트 용이화 설계)
ㆍ Memory reliability and product technology (메모리 신뢰성 및 제품 기술)
ㆍ Memory systems and applications (메모리 시스템 기술)
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국가
대한민국
소속기관
연세대학교 (학교)
연락처
02-2123-5766 https://ee.yonsei.ac.kr/faculty/name_search.do?mode=view&userId=M8jUwfd%2Bv4pySB5i1SKcpg%3D%3D
책임자
윤홍일 hyoon@yonsei.ac.kr