2007-09-27
org.kosen.entty.User@1a8297d
최규석(seed77)
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XRD에서 보면 pi scan 이라는 것이 있는데요..
논문을 찾아보니까..pi scan을 해서 논문에 실었더라고요..
근데..제가 XRD를 이용해서 논문에서처럼 pi scan(X축 : 0-350)을 할려고 하는데요
보니까..조절해야되는 것이..
pi 0, 360로 조절하고요..
2T, T 이런 것들을 조절하게 되어있더라고요..
2T는 2 Theta인거 같고 T는 Theta 같은데요...
제가 만약 논문처럼 X축값을 0-360으로 하고 데이터를 얻고 싶으면
2T와 T값은 어떻게 조절해야되나요??
브래그 condition을 만족하도록 X-ray 소스와 디텍터를 고정한다는 의미가 뭔가요??
카이 각 만큼 고니어 미터를 조정한다는 의미는??(관측하고자 하는 결정 면이 브래그 컨디션에 수직)
- XRD
- pi scan
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각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
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답변 3
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답변
유재은님의 답변
2007-09-27- 0
지면에 쓰기에는 복잡합니다만...일반적으로 파이 스캔은 결정의 in-plan 결정성을 관찰할 때 사용 됩니다. phi-scan 하고자 하는 결정면의 2theta와 카이(또는 오메가) 각이 필요합니다. 우선 브래그 condition을 만족하도록 X-ray 소스와 디텍터를 고정합니다. 카이 각 만큼 고니어 미터를 조정하여, 관측하고자 하는 결정 면이 브래그 컨디션에 수직이 되도록합니다. 그 다음 파이각을 360도로 회전하면서 측정하면 됩니다. 도움이 되면 좋겠읍니다. >XRD에서 보면 pi scan 이라는 것이 있는데요.. >논문을 찾아보니까..pi scan을 해서 논문에 실었더라고요.. >근데..제가 XRD를 이용해서 논문에서처럼 pi scan(X축 : 0-350)을 할려고 하는데요 >보니까..조절해야되는 것이.. >pi 0, 360로 조절하고요.. >2T, T 이런 것들을 조절하게 되어있더라고요.. >2T는 2 Theta인거 같고 T는 Theta 같은데요... >제가 만약 논문처럼 X축값을 0-360으로 하고 데이터를 얻고 싶으면 >2T와 T값은 어떻게 조절해야되나요?? > -
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손삼익님의 답변
2007-09-28- 0
원하는 면속의 theta-2theta를 정하고 phi scan을 진행하시면 됩니다. theta-2theta scan에서는 surface normal면속만 측정이 됩니다. 따라서 우선 theta-2theta 에서 surface normal direction을 확인하고 phi scan을 원하는 면속의 입사각과 회절각을 계산하여 theta-2theta를 고정하고 phi scan을 하시면 됩니다. 이 때 나오는 정보는 시료의(주로 박막 시료) lateral arrangement를 확인 할 수 있습니다. 첨부 그림에 phi scan의 geometry와 tetragonal 시료에서 (111) 면속에 대한 phi scan schetch를 첨부합니다. -
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이영국님의 답변
2007-09-28- 0
>XRD에서 보면 pi scan 이라는 것이 있는데요.. >논문을 찾아보니까..pi scan을 해서 논문에 실었더라고요.. >근데..제가 XRD를 이용해서 논문에서처럼 pi scan(X축 : 0-350)을 할려고 하는데요 >보니까..조절해야되는 것이.. >pi 0, 360로 조절하고요.. >2T, T 이런 것들을 조절하게 되어있더라고요.. >2T는 2 Theta인거 같고 T는 Theta 같은데요... >제가 만약 논문처럼 X축값을 0-360으로 하고 데이터를 얻고 싶으면 >2T와 T값은 어떻게 조절해야되나요?? > >브래그 condition을 만족하도록 X-ray 소스와 디텍터를 고정한다는 의미가 뭔가요?? >카이 각 만큼 고니어 미터를 조정한다는 의미는??(관측하고자 하는 결정 면이 브래그 컨디션에 수직) > 일단 위에서 잘 설명해 주셨으니 저는 조금만 부연 설명하렵니다. 제가 보기에 질문하신 분이 XRD에 초보이신 것 같아 두 분의 답변을 이해하기가 조금 어려울 것 같습니다. 일단 파이 스캔은 theta - 2 theta 스캔 (즉, 일반적인 XRD)을 마친 시료에 대해서만 가능합니다. 예를 들어 ZnO 박막을 theta - 2 theta 스캔하였더니 (0001) 피크만 관찰되었다고 할 때 이 시편이 epitaxy가 되었는지, 아니면 preferred growth인지를 알고 싶다면 파이 스캔(in-plane 정보를 얻음)과 오메가 스캔(out-of-plane 정보를 얻음)을 합니다. 파이 스캔의 경우 일단 2 theta(Bragg 회절 조건) 값을 알아야 하는데 ZnO 시편의 (0001) 면을 파이 스캔하려면 JCPDS에서 ZnO (0001)면의 2 theta 값을 찾아서 X-ray source는 theta만큼, detector는 2 theta 만큼 이동해 준 상태에서 파이 스캔을 하게 됩니다. 실제로 파이 스캔하는 도중에는 theta와 2 theta는 고정되는 셈이죠. 결과적으로 파이 스캔을 하고자 하는 면의 2 theta 값을 모르면 파이 스캔을 할 수 없습니다!!! --> 먼저 theta - 2 theta 스캔을 한 후 결과를 보고 파이 스캔을 할지 말지를 결정하세요. 사실 다결정 시편이라면 굳이 파이 스캔을 할 필요는 없습니다.