지식나눔

C-AFM 측정이 가능한 분해능

C-AFM를 이용하여 topo 이미지 아니라 current 이미지를 보고자 하는 분이 있습니다. 그런데, 그것이 그래핀이고 링형태로 되어 있다고 합니다. 링사이즈는 10nm 정도이고요. 이것을 C-AFM으로 분석하는것이 가능할까요. 일단 C-AFM에 사용되는 팁 반경이 20~40nm 사이에 있습니다. 그런데, 분석한 이미지가 있더라고요. 이런것으로 어떻게 분석하면 될까요?

http://www.nature.com/nphys/journal/v10/n6/fig_tab/nphys2954_F2.html
  • C-AFM
  • 그래핀
지식의 출발은 질문, 모든 지식의 완성은 답변! 
각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
답변 1
  • 답변

    이정아님의 답변

    일반적인 경우 C-AFM은 sample bias를 주고 tip은 Ground상태에서 측정을 하기 때문에 전극 구성을 한 다음 측정이 이루어져야 하는 것으로 알고 있습니다. 통상적으로 TIP Approach를 시키고 bias를 인가하면서 천천히 sample의 topo와 current map을 측정한 다음 I/V spectroscopy로 가서 특정 spot이나 map 기능을 이용해서 측정을 하는데 이때 전압은 -10에서 10V 범위에서 측정하는 것이 가능하고 전류의 경우는 external 기능을 활용해서 current range를 조절해 가면서 값을 얻으셔야 합니다.

    지금까지 c-afm과 관련하여 너무나 당연한 말씀을 드렸을 수도 있지만 그런 다음 범위를 줄여가면서 확인하고 Image processing 프로그램으로 분석을 해야 겠지요.
     
    일반적인 경우 C-AFM은 sample bias를 주고 tip은 Ground상태에서 측정을 하기 때문에 전극 구성을 한 다음 측정이 이루어져야 하는 것으로 알고 있습니다. 통상적으로 TIP Approach를 시키고 bias를 인가하면서 천천히 sample의 topo와 current map을 측정한 다음 I/V spectroscopy로 가서 특정 spot이나 map 기능을 이용해서 측정을 하는데 이때 전압은 -10에서 10V 범위에서 측정하는 것이 가능하고 전류의 경우는 external 기능을 활용해서 current range를 조절해 가면서 값을 얻으셔야 합니다.

    지금까지 c-afm과 관련하여 너무나 당연한 말씀을 드렸을 수도 있지만 그런 다음 범위를 줄여가면서 확인하고 Image processing 프로그램으로 분석을 해야 겠지요.
     
    변성천(rg1000) 2015-03-23

    답변 감사합니다. 제 이야기는 다른 것이 아니라 어느 정도 작은 영역에서 토포이미지와 전류이미지를 얻을 수 있는지가 궁금합니다 일반적으로 토포이미지도 이미지 사이즈 1um 미만에서는 tip 크기에 영향을 받습니다. 그런데, 전류를 측정할 수 있는 팁은 사이즈가 커서 이미지 크기가 1um에서도 선명한 이미지를 얻기가 어렵습니다. 그런데, 참조하고 있는 논문의 이미지는 이미지 크기가 대략 100nm미만이더군요. 이런 이미지가 얻어지는지... 얻을려면 상당한 시간이 소요됬을 것같은데...

    저도 관심이 있는 분야여서 참조하고 있는 논문을 살펴보니 ref. 28를 참고하면 답을 얻을 수 있을 것 같습니다.