지식나눔

앞서 전도도 측정에 관한 질문입니다 I-AFM

앞서 전도도 측정에 관한 질문입니다 I-AFM이라는 측정 방법을 말씀해주셨는데

고분자 재료를 유리 셀에 코팅을 한 상태입니다.

또는 고체 자체로도 가능한가요?

I-AFM측정 가능한 곳 아시는곳 있나요?
  • I-AFM
  • 전도도
지식의 출발은 질문, 모든 지식의 완성은 답변! 
각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
답변 3
  • 답변

    최규석님의 답변

    근데 전도도를 측정하실려면 four-probe point가 좋은데요.

    꼭 AFM을 원하시면 Conductive AFM 이걸로 제우스에서 찾아보니 많이 나오네요.

    요즘은 용어들을 못 쓰게 하니까 예전에는 c-AFM 이렇게 표현했는데 요즘은 Current를

    측정하니까 I-AFM 이렇게 용어를 사용하네요. AFM 있는 곳에서 conductive 측정가능한

    기관만 찾으시면 됩니다.
    근데 전도도를 측정하실려면 four-probe point가 좋은데요.

    꼭 AFM을 원하시면 Conductive AFM 이걸로 제우스에서 찾아보니 많이 나오네요.

    요즘은 용어들을 못 쓰게 하니까 예전에는 c-AFM 이렇게 표현했는데 요즘은 Current를

    측정하니까 I-AFM 이렇게 용어를 사용하네요. AFM 있는 곳에서 conductive 측정가능한

    기관만 찾으시면 됩니다.

    감사합니다

  • 답변

    이정아님의 답변

    일반적으로 C-AFM의 경우 코인과 같은 도전체에 샘플을 놓고 실버페이스트와 같은 접착제로 고정을 한 다음 tip으로 스캔을 해서 샘플 표면에 대한 current 분포와 특정 Point에서의 i-v curve를 얻어서 해당 샘플의 전기적 특성을 평가하는 장치입니다. C-AFM의 경우 전압은 -10V~+10V 정도이고 current 레벨은 C-AFM장치에 무리가 갈 수 있기 때문에 대부분 nA 수준으로 설정을 한 다음 측정을 합니다.  일단은 충분히 검색을 해 보시고 C-AFM으로 측정하는 수준의 전류를 얻고자 하신다면 그 때 샘플 준비는 어떻게 해야하는 지 C-AFM 담당자와 상의를 해 보시지요.

    그러나 C-AFM을 대상으로 실험을 해 본 저로서는 추천드리고 싶지 않은 특별한 방법이라서 이미 다른 분들이 권해주신 방법을 시도해 보시는 것이 더 좋을 것으로 생각됩니다.
    일반적으로 C-AFM의 경우 코인과 같은 도전체에 샘플을 놓고 실버페이스트와 같은 접착제로 고정을 한 다음 tip으로 스캔을 해서 샘플 표면에 대한 current 분포와 특정 Point에서의 i-v curve를 얻어서 해당 샘플의 전기적 특성을 평가하는 장치입니다. C-AFM의 경우 전압은 -10V~+10V 정도이고 current 레벨은 C-AFM장치에 무리가 갈 수 있기 때문에 대부분 nA 수준으로 설정을 한 다음 측정을 합니다.  일단은 충분히 검색을 해 보시고 C-AFM으로 측정하는 수준의 전류를 얻고자 하신다면 그 때 샘플 준비는 어떻게 해야하는 지 C-AFM 담당자와 상의를 해 보시지요.

    그러나 C-AFM을 대상으로 실험을 해 본 저로서는 추천드리고 싶지 않은 특별한 방법이라서 이미 다른 분들이 권해주신 방법을 시도해 보시는 것이 더 좋을 것으로 생각됩니다.

    감사합니다

  • 답변

    변성천님의 답변

    일단 C-AFM 측정은 하기가 쉽지 않습니다. 데이터 나와도 그 결과를 신뢰할 수 있는지 확인해야 합니다.  C-AFM는 하는 이유는 미세한 영역에서 전도도를 보기 위해서 입니다. 큰 영역에서 할 것이라면 다른 계측기를 사용하는 것이 맞습니다.

    그리고 , 일단 질문자님께서 하는 방법으로 측정하면 데이터가 안 나올것 가능성이 많습니다.

    C-AFM 는  샘플 홀더를 0V로 인가하고 tip에 -10V ~ +10V 를 인가하면서 측정하는 방식입니다.
    그런데 질문자님에 이야기 한 샘플은 유리기판때문에 측정이 안 될수도 있고, 아니면 고분자보다 큰 저항을 가진 유리기판때문에 유리기판의 전도도를 측정한 셈이 됩니다. C-AFM 는 전기회로에 대한 약간 지식이 필요합니다. 즉, 위헤 말한 샘플은 고분자와 유리기판이 직렬로 연결되어 있기에 정확한 전도도를 측정하기 위해서는 고분자보다 전도도가 좋은 기판(금속)을 사용해야 합니다.  아니면 샘플홀더와 고분자를 도선으로 연결하여 고분자의 전도도를 측정할 수 있는데 이 경우에는 도선이 위한 장소와 팁간의 간격에 따라 전도도가 달라질수 있습니다. 
    일단 C-AFM 측정은 하기가 쉽지 않습니다. 데이터 나와도 그 결과를 신뢰할 수 있는지 확인해야 합니다.  C-AFM는 하는 이유는 미세한 영역에서 전도도를 보기 위해서 입니다. 큰 영역에서 할 것이라면 다른 계측기를 사용하는 것이 맞습니다.

    그리고 , 일단 질문자님께서 하는 방법으로 측정하면 데이터가 안 나올것 가능성이 많습니다.

    C-AFM 는  샘플 홀더를 0V로 인가하고 tip에 -10V ~ +10V 를 인가하면서 측정하는 방식입니다.
    그런데 질문자님에 이야기 한 샘플은 유리기판때문에 측정이 안 될수도 있고, 아니면 고분자보다 큰 저항을 가진 유리기판때문에 유리기판의 전도도를 측정한 셈이 됩니다. C-AFM 는 전기회로에 대한 약간 지식이 필요합니다. 즉, 위헤 말한 샘플은 고분자와 유리기판이 직렬로 연결되어 있기에 정확한 전도도를 측정하기 위해서는 고분자보다 전도도가 좋은 기판(금속)을 사용해야 합니다.  아니면 샘플홀더와 고분자를 도선으로 연결하여 고분자의 전도도를 측정할 수 있는데 이 경우에는 도선이 위한 장소와 팁간의 간격에 따라 전도도가 달라질수 있습니다. 
    등록된 댓글이 없습니다.