2018-06-03
org.kosen.entty.User@886a8ce
장영석(jangys88)
- 1
안녕하세요
저는 CNT 관련 연구하고 있는 대학원생입니다
전도성을 띄는 PEDOT:PSS과 CNT 를 혼합하여 12*8*1 mm 크기(블럭형태)로 제작하였고
cAFM 으로 전기전도성을 측정하고자 I-V 커브를 획득하였습니다
bias 는 2V 를 걸었고 current range 는 saturation 직전이 +- 600 nA 입니다
옴의 법칙에서 R=V/I 인데 기울기 값으로 저항을 계산해보면
예를 들어, V=0.055 [V], 이때 I = 223 [nA] 가 나왔고 R 을 계산해보면 0.055[V]/223*10^-9[A] = 246636 [ohm]이 나옵니다.
그러나 단순히 만들어진 블럭을 멀티미터로 터치하여 측정하면 약 8 옴 정도가 나오는데 이러한 차이는 무엇때문인가요??
긴 글 읽어주셔서 감사합니다
저는 CNT 관련 연구하고 있는 대학원생입니다
전도성을 띄는 PEDOT:PSS과 CNT 를 혼합하여 12*8*1 mm 크기(블럭형태)로 제작하였고
cAFM 으로 전기전도성을 측정하고자 I-V 커브를 획득하였습니다
bias 는 2V 를 걸었고 current range 는 saturation 직전이 +- 600 nA 입니다
옴의 법칙에서 R=V/I 인데 기울기 값으로 저항을 계산해보면
예를 들어, V=0.055 [V], 이때 I = 223 [nA] 가 나왔고 R 을 계산해보면 0.055[V]/223*10^-9[A] = 246636 [ohm]이 나옵니다.
그러나 단순히 만들어진 블럭을 멀티미터로 터치하여 측정하면 약 8 옴 정도가 나오는데 이러한 차이는 무엇때문인가요??
긴 글 읽어주셔서 감사합니다
- cAFM
- csAFM
- I-V
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각 분야 한인연구자와 현업 전문가분들의 답변을 기다립니다.
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답변 1
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답변
변성천님의 답변
2018-06-05- 2
멀티미터로 측정한 값이 8 옴이라면 아주 적은 저항값이군요.
멀티미터는 시료의 표면 2곳을 2개의 프로브로 측정하는 방식입니다.
그래서 별 다른 문제가 없다면 시료의 저항은 맞을 겁니다.
하지만 C-AFM은 측정방식이 다릅니다.
시료를 홀더위에 올려놓고 홀더와 탐침에 전압을 인가하여 전류를 측정하는 방식입니다.
그래서, 탐침에서 나온 전류가 표면을 통과하여 홀더로 들어간다고 보면 맞습니다.
시료가 균일하다면 멀티미터로 잰값과 같이 나올 수 있습니다.
하지만 측정시 오류를 일으킬 수 요인들이 있습니다.
시료 홀더(금속)위에 시료를 붙일 때 카본 테이프 혹은 카본페이스트(실버페이스트)를 사용합니다. 카본 테이프를 사용했다면 아마도 저항 수십 킬로 옴 정도이고, 카본페이스트는 이 약 100옴 정도이고 실버페이스트는 수 옴정도입니다.
그래서, 탐침과 시료사이에 테이프(페이스트)등의 직렬저항이 포함되어 있습니다.
시료의 저항이 작다면 이것이 문제를 일으킬수 있습니다.
그래서, 대부분의 C-AFM 데이터는 메가 오옴, 기가 오옴을 측정합니다. 이런 요인들을 무시할
수 있죠.
그리고, 탐침의 반경이 보통 30nm정도이기 때문에 흘릴 수 있는 전류가 크지 않습니다.
이렇게 작은 저항을 측정한다면 아마도 탐침의 전도성 피복이 벗겨졌을 가능성이 높습니다.
그러면, 전류가 흐르지 않죠. 그래서, 나온 데이터는 노이즈 피크값으로써 최대값과 최소값이 먼갈아 나오는 듯한 그래프가 보일것 같습니다.
그리고 가끔은 전류를 측정하기 위해 사용되는 증폭기의 게인값을 설정을 잘못하는 경우도 있습니다.
답변 감사드립니다 많은 도움됬어요 ^^