지식나눔

Thin film의 IR 분석시 적합한 Si wafer는 어떤 제품인가요?

Sol-gel법으로 합성한 TiO2 & SiO2 thin film의 IR 분석을 하려고 합니다.


 


여러 참고 문헌을 보면,


 


Thin film 분석 시 IR 영역에서 Si wafer가 많이 이용된다고 하던데...


 


실제로 Si wafer로 background를 잡아보니...


 


NaCl glass와 비슷한 개형의 background 스펙트럼이 나오긴 하나 그 Intensity가 조금 약했습니다.


 


그 후 SiO2 sample을 Si wafer 위에 올려서 찍어봤더니..


 


peak가 나오긴 하는데 이게 잘 나온건지 판단이 서질 않습니다...


 


0-2400 cm-1 파장에서는 뭔가 개형을 보이긴 하는데..


 


2400-4000 cm-1 파장에서는 노이즈 처럼 찍혀서 나오네요...


 


혹시나 하고 아예 다른 Si wafer를 주문해 봤습니다...


 


Silicon Materials Inc. (made in Belarus)


 


Test grade, P-type, TTV <=10um, Resistivity <0.005 ohm*cm 사양의


 


저저항 제품을 구매했는데.. 이건 background 찍을때부터 위의 개형이 안 나오고 노이즈가 나오더라구요...


 


혹시 thin film의 IR 분석을 하는데 적합한 Si wafer (회사, 제품)를 알려주신다면 감사하겠습니다.

  • IR
  • Thin film
  • Si wafer
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답변 1
  • 답변

    강광철님의 답변

     

    -------------------------------------질문-------------------------------------

    Sol-gel법으로 합성한 TiO2 & SiO2 thin film의 IR 분석을 하려고 합니다.

     

    여러 참고 문헌을 보면,

     

    Thin film 분석 시 IR 영역에서 Si wafer가 많이 이용된다고 하던데...

     

    실제로 Si wafer로 background를 잡아보니...

     

    NaCl glass와 비슷한 개형의 background 스펙트럼이 나오긴 하나 그 Intensity가 조금 약했습니다.

     

    그 후 SiO2 sample을 Si wafer 위에 올려서 찍어봤더니..

     

    peak가 나오긴 하는데 이게 잘 나온건지 판단이 서질 않습니다...

     

    0-2400 cm-1 파장에서는 뭔가 개형을 보이긴 하는데..

     

    2400-4000 cm-1 파장에서는 노이즈 처럼 찍혀서 나오네요...

     

    혹시나 하고 아예 다른 Si wafer를 주문해 봤습니다...

     

    Silicon Materials Inc. (made in Belarus)

     

    Test grade, P-type, TTV <=10um, Resistivity <0.005 ohm*cm 사양의

     

    저저항 제품을 구매했는데.. 이건 background 찍을때부터 위의 개형이 안 나오고 노이즈가 나오더라구요...

     

    혹시 thin film의 IR 분석을 하는데 적합한 Si wafer (회사, 제품)를 알려주신다면 감사하겠습니다.

    참고문헌참고하세요. 분석부분은 회사에따라 다르지는 않을것 같은데요..

     

    -------------------------------------질문-------------------------------------

    Sol-gel법으로 합성한 TiO2 & SiO2 thin film의 IR 분석을 하려고 합니다.

     

    여러 참고 문헌을 보면,

     

    Thin film 분석 시 IR 영역에서 Si wafer가 많이 이용된다고 하던데...

     

    실제로 Si wafer로 background를 잡아보니...

     

    NaCl glass와 비슷한 개형의 background 스펙트럼이 나오긴 하나 그 Intensity가 조금 약했습니다.

     

    그 후 SiO2 sample을 Si wafer 위에 올려서 찍어봤더니..

     

    peak가 나오긴 하는데 이게 잘 나온건지 판단이 서질 않습니다...

     

    0-2400 cm-1 파장에서는 뭔가 개형을 보이긴 하는데..

     

    2400-4000 cm-1 파장에서는 노이즈 처럼 찍혀서 나오네요...

     

    혹시나 하고 아예 다른 Si wafer를 주문해 봤습니다...

     

    Silicon Materials Inc. (made in Belarus)

     

    Test grade, P-type, TTV <=10um, Resistivity <0.005 ohm*cm 사양의

     

    저저항 제품을 구매했는데.. 이건 background 찍을때부터 위의 개형이 안 나오고 노이즈가 나오더라구요...

     

    혹시 thin film의 IR 분석을 하는데 적합한 Si wafer (회사, 제품)를 알려주신다면 감사하겠습니다.

    참고문헌참고하세요. 분석부분은 회사에따라 다르지는 않을것 같은데요..
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